半导体芯片测试微波网络分析仪 SP850P 142dB动态范围 频率达50GHz 默认

SP800系列
矢量网络分析仪
(9 KHz~9 GHz/20 GHZ,100 KHZ~50 GHz,900Hz~26.5 GHz/50 GHz/67[70]GHz)
Prosund SP800系列矢量网络分析仪具有宽广的频率范围,面向研发和生产需求。SP800B系列主要面向通用微波网络测试和大规模生产应用,具有出色的测量完整性和经济性,在速度和性能上面达到最佳平衡。凭借出色的吞吐量、可重复性和可靠性,直观的用户界面,可升级的软件和硬件帮您更好更快的进行测试,通过不同的功能测试选件,满足各种不同的应用需求。而SP800P系列是普尚最高性能的综合微波测试仪表,但同样具有业界超高性价比。它凝聚了普尚多年的射频微波测试技术积累。可用于测量放大器、变频器、混频器等有源无源器件。先进的误差校正功能确保准确地测试线性和非线性器件特征。SP800P出色的射频特性和丰富的分析功能可以帮助工程师轻松应对各种严峻的测试挑战。12.1寸彩色LCD触摸屏为您带来灵活、高效的的操控体验;低温漂、低轨迹噪声、大动态范围和丰富的软件应用,使得在大多数的测试中，只需一次连接即可完成多个测量任务。

选型指南
型号
SP809B:9 KHz~9GHz
SP820B:9 KHz~20 GHZSP850B:100 KHZ~50GHZ
SP826P:900 Hz~26.5 GHZSP850P:900 Hz~50 GHzSP867P:900 Hz~67(70)GHz
典型应用
标准S 参数测量
自动夹具移除测试
混频器/变频器标量测试
大功率Ⓜ盎频元器件测试
通阽荀薩鍈践綏锻射辁介頷仍歲/微波元器件测试大批量制造测试
有源和无源测量应用
-具有增强型时域分析
无源器件(如滤波器、电缆天线等)特性表征
有源器件(如放大器、混频器/变频器等)特性表征
材料测试
半导体芯片测试
信号完整性测试
单台仪器可替代整套机架安装式测试系统
主要特性
具有稳定性能的经济型网分仪具有2或4端口，50Q阻抗匹配
152 dB 大动态范围
0.0015 dBrms 低迹线噪声
0.005 dB/°C 高温度稳定度高达15 dBm 的高功率输出
具有2 或4 端口的射频到微波频率范围
150 dB 大动态范围
0.0015 dBrms低迹线噪声
低至2.2 ms的超快测量速度
中频带宽高达30MHZ
高达200010的增强测量点
具有频谱分析、脉冲调制等硬件选件和噪声系数测量等软件应用
10 MHz~67(70)GHz宽频带同轴测试范围(通过频率扩展设备可扩频至1.5THz)
具有2 或4 端口,并可通过多端口扩展设备进行端口扩展
中频带宽高达30MHZ
超快测量速度:3.6-23us/点
142dB大动态范围
温度稳定度低于0.03dB/°C
高激励源输出功率，最大22dBm丰富的软件功能:脉冲S 参数测量、标量/矢量混频器/变频器测量、增益压缩测量、噪声系数测量、频谱测量等20 多种功能